Knowledge Management System Of Institute of optics and electronics, CAS
| Department | 超精总体部 |
| 超高精度光学元件面形干涉检测技术及应用 | |
| 侯溪; 宋伟红; 吴高峰; 贾辛; 全海洋; 徐富超 | |
| Source Publication | 《第十七届全国光学测试学术交流会摘要集》
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| Pages | 1 |
| 2018 | |
| Language | 中文 |
| Subtype | J |
| Abstract | 介绍超高精度光学元件面形干涉检测技术需求,概括介绍国内外面形干涉检测技术现状和发展趋势。重点介绍光电技术研究所在平球面绝对检测、拼接检测、非球面检测方面的技术进展和相关应用。最后对其未来发展进行了展望。 |
| Keyword | 光学元件 干涉检测 |
| Document Type | 期刊论文 |
| Identifier | http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/9226 |
| Collection | 超精总体部 |
| Affiliation | 中国科学院光电技术研究所 |
| First Author Affilication | Institute of optics and electronics, CAS |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 侯溪,宋伟红,吴高峰,等. 超高精度光学元件面形干涉检测技术及应用[J]. 《第十七届全国光学测试学术交流会摘要集》,2018:1. |
| APA | 侯溪,宋伟红,吴高峰,贾辛,全海洋,&徐富超.(2018).超高精度光学元件面形干涉检测技术及应用.《第十七届全国光学测试学术交流会摘要集》,1. |
| MLA | 侯溪,et al."超高精度光学元件面形干涉检测技术及应用".《第十七届全国光学测试学术交流会摘要集》 (2018):1. |
| Files in This Item: | ||||||
| File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
| 2018-1073.pdf（213KB） | 期刊论文 | 出版稿 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | Application Full Text | |
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