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Department质量处(质检中心)
拼接检测系统平面波前稀疏子孔径排列模型的优化
罗倩; 吴时彬; 汪利华; 杨伟; 范斌
Source Publication光电工程
Volume45Issue:5Pages:32-38
2018
Language中文
ISSN1003-501X
DOI1003-501X(2018)45:5<170638:PJJCXT>2.0.TX;2-X
Indexed ByCSCD
CSCD IDCSCD:6253499
SubtypeJ
Abstract稀疏子孔径拼接检测是大口径、超大口径光学系统像质检测的主要方法之一,其拼接检测的精度与子孔径排列方式、数目以及大小密切相关。本文通过建立数学模型,推导出子孔径个数k在1到无穷区间取值,子孔径个数k与填充因子M的关系曲线,从而得出在1.5m以下系统检测的最优的七个稀疏子孔径排列布局图,并通过Ф200mm自准干涉检验,验证了这种排列布局的合理性。
Keyword稀疏子孔径 教学建模 拼接检测 波面重构 干涉测量
Citation statistics
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/9179
Collection质量处(质检中心)
Affiliation1.中国科学院光电技术研究所
2.中国科学院大学
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GB/T 7714
罗倩,吴时彬,汪利华,等. 拼接检测系统平面波前稀疏子孔径排列模型的优化[J]. 光电工程,2018,45(5):32-38.
APA 罗倩,吴时彬,汪利华,杨伟,&范斌.(2018).拼接检测系统平面波前稀疏子孔径排列模型的优化.光电工程,45(5),32-38.
MLA 罗倩,et al."拼接检测系统平面波前稀疏子孔径排列模型的优化".光电工程 45.5(2018):32-38.
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