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Department光电测控技术研究室(三室)
基于最小二乘拟合的科学级CMOS传感器非均匀性校正
闫苏琪; 杨世洪; 王明富; 洪裕珍
Source Publication电子设计工程
Volume26Issue:7Pages:151-155
2018
Language中文
SubtypeJ
Abstract鉴于图像传感器普遍存在非均匀性问题,本文提出了一种基于最小二乘法的分段线性插值的非均匀校正算法。该算法结合了最小二乘拟合法以及分段线性校正方法的优点,在大场景动态范围内都可实现良好的校正效果。采用科学级CMOS为实验对象,经本文提出的算法校正后,在整个工作照度范围下非均匀度相比原始图像可降低约42%。并与几种经典校正算法进行对比分析,结果表明该校正算法可适应的场景动态范围更大,在整个工作照度环境下可得到更好的平均校正效果。
Keyword科学级CMOS传感器 非均匀性校正 最小二乘法 分段线性插值算法
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/9159
Collection光电测控技术研究室(三室)
Affiliation1.中国科学院光电技术研究所
2.中国科学院大学
Recommended Citation
GB/T 7714
闫苏琪,杨世洪,王明富,等. 基于最小二乘拟合的科学级CMOS传感器非均匀性校正[J]. 电子设计工程,2018,26(7):151-155.
APA 闫苏琪,杨世洪,王明富,&洪裕珍.(2018).基于最小二乘拟合的科学级CMOS传感器非均匀性校正.电子设计工程,26(7),151-155.
MLA 闫苏琪,et al."基于最小二乘拟合的科学级CMOS传感器非均匀性校正".电子设计工程 26.7(2018):151-155.
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