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| 半导体材料特性的光载流子辐射检测技术研究 | |
| 王谦 | |
| Subtype | 博士 |
| Thesis Advisor | 李斌成 |
| 2016-05 | |
| Degree Grantor | 中国科学院研究生院 |
| Place of Conferral | 北京 |
| Keyword | 光载流子辐射 载流子输运参数 多参数拟合 超浅结 缺陷 |
| Subject Area | 光学工程 |
| Document Type | 学位论文 |
| Identifier | http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/8007 |
| Collection | 光电技术研究所博硕士论文 |
| Affiliation | 中国科学院光电技术研究所 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 王谦. 半导体材料特性的光载流子辐射检测技术研究[D]. 北京. 中国科学院研究生院,2016. |
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| File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
| 十一室--王谦--毕业论文.pdf（3810KB） | 学位论文 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | Application Full Text | ||
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