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题名:
残余应力对静电驱动MEMS微镜性能的影响
作者: 胡放荣; 姚军; 陈剑鸣
刊名: 中国激光
出版日期: 2009
卷号: 36, 期号:s2, 页码:30-34
通讯作者: 胡放荣
文章类型: 期刊论文
中文摘要: 残余应力是微机械表面加工过程中不可避免的,残余应力的存在会影响微机械器件的性能。通过引入等效力学模型,推导出残余应力作用下静电驱动微镜的吸合电压和行程的表达式,定量地研究了残余应力对吸合电压和行程的影响。同时还研究了残余应力对微镜本征频率的影响,发现本征频率随着残余拉应力的增加而增大。采用白光干涉仪对不同残余应力情况下的微镜表面形貌进行了实验测试,结果表明,残余应力会引起表面翘曲,从而使微镜的斯特列尔比下降,成像质量变差。
收录类别: Ei
语种: 中文
内容类型: 期刊论文
URI标识: http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/6702
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2009-126.pdf(2549KB)期刊论文作者接受稿开放获取View 联系获取全文

作者单位: 中国科学院光电技术研究所

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胡放荣,姚军,陈剑鸣. 残余应力对静电驱动MEMS微镜性能的影响[J]. 中国激光,2009,36(s2):30-34.
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