IOE OpenIR  > 薄膜光学技术研究室(十一室)
基于光谱采样率的反卷积算法分析
刘卫静; 李斌成; 韩艳玲; 曲哲超
Source Publication激光与光电子学进展
Volume49Issue:4Pages:153-158
2012
Language中文
Subtype期刊论文
Abstract反卷积方法是提高光谱仪分辨率的重要手段。采用空域迭代反卷积和频域维纳滤波对多纵模激光器光谱进行数据仿真,并在不同光谱仪采样率条件下,比较了迭代反卷积和维纳滤波结果。仿真结果表明,迭代反卷积和维纳滤波可以有效消除光谱仪仪器响应函数引起的光谱展宽,提高光谱仪分辨率。在光谱仪采样率低的情况下,迭代反卷积的分辨率增强效果优于维纳滤波。随着采样率的增加,维纳滤波的误差小于迭代反卷积。实验分别测量了单纵模和多纵模632.8nm;He-Ne激光器光谱,并对测量结果进行反卷积处理。结果表明,低分辨率光谱仪测量的激光器光谱经反卷积处理后与高分辨率光谱仪直接测量结果一致。
Keyword光谱学 采样率 反卷积 分辨率
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/6601
Collection薄膜光学技术研究室(十一室)
Corresponding Author刘卫静
Affiliation1.中国科学院光电技术研究所
2.中国科学院研究生院
Recommended Citation
GB/T 7714
刘卫静,李斌成,韩艳玲,等. 基于光谱采样率的反卷积算法分析[J]. 激光与光电子学进展,2012,49(4):153-158.
APA 刘卫静,李斌成,韩艳玲,&曲哲超.(2012).基于光谱采样率的反卷积算法分析.激光与光电子学进展,49(4),153-158.
MLA 刘卫静,et al."基于光谱采样率的反卷积算法分析".激光与光电子学进展 49.4(2012):153-158.
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