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题名:
表面热透镜技术测量光学薄膜样品表面热变形
作者: 王艳茹; 李斌成; 刘明强
刊名: 光电工程
出版日期: 2010
卷号: 37, 期号:7, 页码:60-63
通讯作者: 王艳茹
文章类型: 期刊论文
中文摘要: Zernike多项式系数的求解问题是一个典型的离散不适定问题,最小二乘法、格拉姆-斯密特正交化法和Householder变换法均无法求得稳定的数值解。本文对导致该问题解的不稳定性的原因进行了分析,并采用Tikhonov正则化法对Zernike多项式系数进行求解,利用L曲线准则确定了正则参数。数值仿真结果表明,Tikhonov正则化法有效的保证了解的稳定性,利用该方法得到的拟合面形很好的反映了面形的真实情况。
语种: 中文
内容类型: 期刊论文
URI标识: http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/6583
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2010-216.pdf(319KB)期刊论文作者接受稿开放获取View 联系获取全文

作者单位: 中国科学院光电技术研究所

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王艳茹,李斌成,刘明强. 表面热透镜技术测量光学薄膜样品表面热变形[J]. 光电工程,2010,37(7):60-63.
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