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题名:
大型光学系统径向哈特曼像质检测方法
作者: 汤国茂; 何玉梅; 廖周
刊名: 激光与光电子学进展
出版日期: 2010
期号: 2, 页码:27-37
通讯作者: 汤国茂
文章类型: 期刊论文
中文摘要: 综述了光腔衰荡高反射率测量技术的发展历史和国内外最新研究进展,给出了各种光腔衰荡技术的原理,分析了相应的优缺点以及用于高反射率测量的现状。主要包括脉冲光腔衰荡、相移光腔衰荡、窄谱连续光腔衰荡和自混合光腔衰荡技术。
语种: 中文
内容类型: 期刊论文
URI标识: http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/6183
Appears in Collections:自适应光学技术研究室(八室)_期刊论文

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2010-052.pdf(663KB)期刊论文作者接受稿开放获取View 联系获取全文

作者单位: 中国科学院光电技术研究所

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汤国茂,何玉梅,廖周. 大型光学系统径向哈特曼像质检测方法[J]. 激光与光电子学进展,2010(2):27-37.
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