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题名:
空间辐射对芯片温度场分布影响的研究
作者: 刘玉明; 吴凡
刊名: 半导体光电
出版日期: 2015
卷号: 36, 期号:1, 页码:92-96
关键词: ANSYS ; 瞬态 ; 有源像元传感器 ; 时间温度曲线
通讯作者: 刘玉明
文章类型: 期刊论文
中文摘要: 简述了ANSYS有限元瞬态热分析方法的基本原理和步骤,推导了瞬态传导辐射微分方程,利用此有限元方法对基于有源像元传感器的探测芯片在轨运行期间温度场进行了计算,得出了详细的温度变化和分布云图情况,研究了不同辐射率的空间辐射对芯片温度分布的影响,比较了芯片在不同辐射率的空间辐射和无空间辐射时的温度分布情况,并绘制了最值温度节点的时间温度曲线,研究结果为相关芯片热设计提供了重要的理论依据。
语种: 中文
内容类型: 期刊论文
URI标识: http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/5143
Appears in Collections:光电传感技术研究室(六室)_期刊论文

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作者单位: 1.中国科学院光电技术研究所
2.中国科学院大学

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刘玉明,吴凡. 空间辐射对芯片温度场分布影响的研究[J]. 半导体光电,2015,36(1):92-96.
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