IOE OpenIR  > 光电传感技术研究室(六室)
一种光电码盘缺陷检测方法的FPGA实现
周锋; 岳永坚; 刘恩海; 余光清
Source Publication半导体光电
Volume35Issue:4Pages:701-704
2014
Language中文
Subtype期刊论文
Abstract光电码盘在实际研究和使用过程中遇到的质量问题,如码道有亮点或暗斑、码道间相位差误差过大等缺陷,会严重影响光电编码器的测量精度。提出一种新式码盘缺陷检测方法,通过FPGA仿真分析实现检测码道上亮点或暗斑位置以及各码道间的相位差,并确定相位差误差大小。通过实验仿真验证了所提出方法的有效性和可行性。
Keyword码盘缺陷 检测 亮点或暗斑 相位差 Fpga仿真
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/5131
Collection光电传感技术研究室(六室)
Corresponding Author周锋
Affiliation1.中国科学院光电技术研究所
2.中国科学院大学
Recommended Citation
GB/T 7714
周锋,岳永坚,刘恩海,等. 一种光电码盘缺陷检测方法的FPGA实现[J]. 半导体光电,2014,35(4):701-704.
APA 周锋,岳永坚,刘恩海,&余光清.(2014).一种光电码盘缺陷检测方法的FPGA实现.半导体光电,35(4),701-704.
MLA 周锋,et al."一种光电码盘缺陷检测方法的FPGA实现".半导体光电 35.4(2014):701-704.
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