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题名:
一种光电码盘缺陷检测方法的FPGA实现
作者: 周锋; 岳永坚; 刘恩海; 余光清
刊名: 半导体光电
出版日期: 2014
卷号: 35, 期号:4, 页码:701-704
关键词: 码盘缺陷 ; 检测 ; 亮点或暗斑 ; 相位差 ; FPGA仿真
通讯作者: 周锋
文章类型: 期刊论文
中文摘要: 光电码盘在实际研究和使用过程中遇到的质量问题,如码道有亮点或暗斑、码道间相位差误差过大等缺陷,会严重影响光电编码器的测量精度。提出一种新式码盘缺陷检测方法,通过FPGA仿真分析实现检测码道上亮点或暗斑位置以及各码道间的相位差,并确定相位差误差大小。通过实验仿真验证了所提出方法的有效性和可行性。
语种: 中文
内容类型: 期刊论文
URI标识: http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/5131
Appears in Collections:光电传感技术研究室(六室)_期刊论文

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作者单位: 1.中国科学院光电技术研究所
2.中国科学院大学

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周锋,岳永坚,刘恩海,等. 一种光电码盘缺陷检测方法的FPGA实现[J]. 半导体光电,2014,35(4):701-704.
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