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题名:
基于块遍历的直线边缘特征提取
作者: 张建伟; 张启衡
刊名: 光学精密工程
出版日期: 2009
卷号: 17, 期号:3, 页码:662-668
通讯作者: 张建伟
文章类型: 期刊论文
中文摘要: 为了能够快速而精确地提取图像中扩展目标的直线边缘特征,提出了一种基于块遍历的直线提取方法.该算法先通过块遍历整个图像,然后按照直方图把块分类并进行二值化,再通过链码得到相同单像素直线的多个块表示,然后通过这
收录类别: Ei
语种: 中文
内容类型: 期刊论文
URI标识: http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/5010
Appears in Collections:光电探测与信号处理研究室(五室)_期刊论文

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2009-260.pdf(383KB)期刊论文作者接受稿开放获取View 联系获取全文

作者单位: 中国科学院光电技术研究所

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张建伟,张启衡. 基于块遍历的直线边缘特征提取[J]. 光学精密工程,2009,17(3):662-668.
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