IOE OpenIR  > 光电测控技术研究室(三室)
槽缝型缺陷参考平面对高速信号的影响研究
杨海峰; 周睿; 李梅
Source Publication半导体光电
Issue3Pages:510-515+520
2013
Language中文
Subtype期刊论文
Abstract为研究槽缝型缺陷参考平面对高速信号的影响,主要基于场路混合仿真,使用三维全波方法提取槽缝缺陷参考平面参数,并结合电路仿真,分别对单端微带线与耦合微带线跨越不连续参考平面的影响进行分析,讨论了这些影响是如何作用于高速数字系统的时序与噪声,并引入眼图予以说明。仿真结果表明开槽长度与宽度都会增大信号回路电感,信号上升沿时间会随着返回路径的增加而退化,从而引起高速数字系统时序抖动,耦合微带线间的串扰随返回路径增加而急剧增加,在抖动与噪声的共同作用下,会对系统数据接收到的信号产生破坏性作用,在高速PCB设计中应遵从使返回路径最小的原则,避免共同的信号返回路径是关键。由此总结出降低不完整参考平面高速互连线...
Keyword缺陷参考平面 信号完整性 耦合噪声 返回路径 高速pcb
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/4416
Collection光电测控技术研究室(三室)
Corresponding Author杨海峰
Affiliation1.中国科学院光电技术研究所
2.中国科学院自适应光学重点实验室
3.中国科学院大学
Recommended Citation
GB/T 7714
杨海峰,周睿,李梅. 槽缝型缺陷参考平面对高速信号的影响研究[J]. 半导体光电,2013(3):510-515+520.
APA 杨海峰,周睿,&李梅.(2013).槽缝型缺陷参考平面对高速信号的影响研究.半导体光电(3),510-515+520.
MLA 杨海峰,et al."槽缝型缺陷参考平面对高速信号的影响研究".半导体光电 .3(2013):510-515+520.
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