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题名:
光电经纬仪CCD曝光中心测量系统的设计
作者: 李满良; 吴钦章
刊名: 光学精密工程
出版日期: 2013
卷号: 21, 期号:5, 页码:1304-1311
关键词: 光电经纬仪 ; CCD曝光中心 ; IRIG-B码终端 ; 数字信号处理 ; 现场可编程门阵列 ; 边缘提取
通讯作者: 李满良
文章类型: 期刊论文
中文摘要: 根据高精度靶场测角要求,设计了一套以IRIG-B码终端为时间基准,基于数字信号处理器(DSP)和现场可编程门阵列(FPGA)的CCD曝光中心测量系统。首先给出了CCD曝光中心的测量原理及硬件组成,利用共源的两台IRIG-B码终端控制发光二极管和CCD探测器,通过调整B码终端输出信号时延控制发光二极管,得到了1Hz脉冲前后沿和曝光脉冲前后沿对齐的2个关键时刻。针对人工图像判读精度低的问题,提出了利用图像重心的提取算法和改进的Krisch边缘算法,自动计算得到CCD曝光中心,其精度优于17μs。在外场对多套光电经纬仪CCD曝光中心进行了测量,并将测量结果应用到外场校飞数据处理中,结果表明,在飞机过...
收录类别: Ei
项目资助者: 国家863高技术研究发展计划资助项目(No.G107309)
语种: 中文
内容类型: 期刊论文
URI标识: http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/4415
Appears in Collections:光电探测技术研究室(三室)_期刊论文

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2013-1069.pdf(1414KB)期刊论文作者接受稿开放获取View 联系获取全文

作者单位: 1.中国科学院光电技术研究所
2.中国科学院大学
3.中国人民解放军63610部队

Recommended Citation:
李满良,吴钦章. 光电经纬仪CCD曝光中心测量系统的设计[J]. 光学精密工程,2013,21(5):1304-1311.
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