IOE OpenIR  > 光电工程总体研究室(一室)
实现光学薄膜吸收损耗绝对测量的新方法
郝宏刚; 饶敏; 周翱; 尹波
Source Publication红外与激光工程
Volume41Issue:6Pages:1490-1493
2012
Language中文
Indexed ByEi
Subtype期刊论文
Abstract光学薄膜吸收损耗的绝对测量对光学薄膜的优化设计与应用至关重要,以光热失调技术实现光学薄膜吸收损耗的绝对测量为研究目的,采取连续激光加热的方式,理论与实验相结合,提出了一种利用反射率或透射率、温度变化和加热光功率之间的3个线性关系,实现吸收损耗绝对测量的方法。针对设计的高反射光学薄膜实验样品,获得样品对加热光功率的吸收率绝对值为1.64×10-2,并分析了影响测量精度的主要因素。研究表明,提出的方法可以实现光学薄膜吸收损耗的绝对测量,特别适合于具有较大反射率或透射率温度系数的样品,测量准确性依赖于样品表面温度理论模型的建立和实验测量的精度,研究结果为光热失调技术的进一步应用提供了理论和实验支持。
Keyword吸收损耗 光学薄膜 光热失调技术
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/4193
Collection光电工程总体研究室(一室)
Corresponding Author郝宏刚
Affiliation1.重庆邮电大学光电工程学院
2.中国科学院光电技术研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
郝宏刚,饶敏,周翱,等. 实现光学薄膜吸收损耗绝对测量的新方法[J]. 红外与激光工程,2012,41(6):1490-1493.
APA 郝宏刚,饶敏,周翱,&尹波.(2012).实现光学薄膜吸收损耗绝对测量的新方法.红外与激光工程,41(6),1490-1493.
MLA 郝宏刚,et al."实现光学薄膜吸收损耗绝对测量的新方法".红外与激光工程 41.6(2012):1490-1493.
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