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题名:
径向哈特曼像质检测系统动态采样控制方法研究
作者: 杨俊涛
学位类别: 硕士
答辩日期: 2008-06-06
授予单位: 中国科学院光电技术研究所
授予地点: 光电技术研究所
导师: 汤国茂
关键词: 径向哈特曼 ; 双五棱镜 ; 光学检测 ; PCI总线 ; 控制系统 ; DSP
学位专业: 检测技术与自动化装置
中文摘要: 大口径光学系统的像质检测技术是大型望远镜研制中的一项关键技术。随着大口径光学系统口径日益增大,传统的光学系统像质检测方法所需求的大口径标准平面镜存在制作难度高、制造周期长、制造成本高昂等方面的问题,是大口径光学系统像质检测技术中的难点。径向哈特曼像质检测系统(RHTS)是一种新型的基于双五棱镜二维扫描并集光机电一体化的光学检测系统,它在室内不需要采用大口径标准平面镜就可以实现光学系统的像质检测。中科院光电所对该项技术进行了多年的理论研究和实验研究,并建立了可检测800mm口径的实验系统。为了将该项技术进一步推向实用化,必须解决测量时间长、及在测量过程中周围环境温度气流影响等一系列问题。本文主要针对测量时间长的问题,通过对径向哈特曼像质检测系统的测量控制流程的分析及子孔径排布特征分析,提出了一种新的动态测量控制方法,由运动控制器控制双五棱镜机构实现在被测口径上二维连续扫描,实时检测扫描子孔径位置并同步触发子孔径光斑数据的采集和处理运算。在硬件方面,研究开发了基于PCI总线,以Ti公司推出的定点高性能运动控制DSP芯片TMS320LF2407A为处理器的硬件控制电路;在软件方面,采用新的数据采集处理方法,并编写了基于PLX SDK 的驱动程序和在Windows平台下用户界面实时监控程序。所研制的径向哈特曼动态采集控制器实现了和主系统的联机,实现了被检测波前的快速动态测量,并显著减少了测量时间,为下一步该项技术在大口径光学系统像质检测中的应用打下了坚实的技术基础。
语种: 中文
内容类型: 学位论文
URI标识: http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/334
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杨俊涛. 径向哈特曼像质检测系统动态采样控制方法研究[D]. 光电技术研究所. 中国科学院光电技术研究所. 2008.
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