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题名:
中红外光参变振荡器在高反射率测量中的应用
作者: 高丽峰 ; 熊胜明 ; 黄伟
刊名: 光学学报
出版日期: 2008
卷号: 28, 期号:z, 页码:151-154
学科分类: 光学薄膜技术
文章类型: 期刊论文
中文摘要: 激光技术的发展中,薄膜扮演着重要的角色,随着高功率激光的发展,薄膜的激光损伤问题变得越来越突出,成为影响激光系统稳定性和使用寿命的重要因素之一[1-2]。薄膜的损伤,不但会使光束质量降低,阻碍系统的性能最优化,严重时还会发生连锁反应,导致其他光学元件损坏,从而使整个系统崩溃。在高重复频率脉冲激光或连续激光辐照下,薄膜的损伤主要是由热效应引起的[3-8]。研究激光辐照下,薄膜的温升规律,探究影响薄膜温升的因素,可以有效降低激光辐照时,薄膜温度的升高,提高薄膜的抗激光损伤阈值,延长薄膜的使用寿命。文中采用数值和实验结果相结合的方法,针对Ta2O5/SiO2多层高反膜,用波长1064nm,重复频率10kHz脉冲激光辐照,测量了不同时刻,基板分别为K9、石英、白宝石时激光辐照薄膜元件产生的温度。并用ANSYS程序计算了不同基板、空气对流系数及基板尺寸对激光辐照中心点温度的影响。1理论模型设基板厚l,直径d,取柱坐标系,坐标原点位于样品的激光入射表面中心,Z轴与激光照射方向一致,Gauss型空间分布的激光束照射在样品表面(Z=0),t=0时,激光开始照射样品
收录类别: Ei
语种: 中文
ISSN号: 0253-2239
内容类型: 期刊论文
URI标识: http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/2080
Appears in Collections:薄膜光学技术研究室(十一室)_期刊论文

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高丽峰,熊胜明,黄伟. 中红外光参变振荡器在高反射率测量中的应用[J]. 光学学报,2008,28(z):151-154.
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