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Test the vertex radius and conic constant of a conic surface by interferometry
作者: Gaofeng Wu
出版日期: 2008
会议名称: PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS (SPIE)
学科分类: 先进光学加工与检测技术
收录类别: 其他
语种: 英语
卷号: 7283
ISSN号: 0361-0780
文章类型: 会议论文
页码: 72834D
内容类型: 会议论文
URI标识: http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/1861
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Gaofeng Wu. Test the vertex radius and conic constant of a conic surface by interferometry[C]. 见:PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS (SPIE).
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